特点:
- 有和没有元件窗口的探测器尺寸范围广泛
- 对轻元素和低能分析的最佳能量分辨率
- 采用混合技术的新型信号处理单元可实现超高吞吐量的最快测量
- 细线探测器技术,甚至更多的计数和更低的光束电流
- 紧凑的设计和低重量(Max。检测器重量3.75kg)
- 高精度滑块,完全集成电机,精确定位
- 支持用户友好的ESPRIT软件
- 实时光谱分析,允许用户立即查看成分变化(光谱更新的间隔可达100毫秒)
与扫描电子显微镜或透射电子显微镜相配合,新一代QUANTAX EDS具有细线技术和广泛的活性区域,适用于XFlash®6系列探测器。结合新的增强型混合脉冲处理器,Bruker的EDS探测器再一次在性能和功能上设定了标准。第六代提供硬件和软件技术,在纳米研究中提供最快和最可靠的结果。